Einführung des Helium-Leckage-Detektors SFJ-16C
Helium-Leckage-Detektor - die ultimative Lösung für Vakuum-Leckage-Detektion
Der Helium-Leckedetektor, auch Helium-Massenspektrometer-Leckedetektor genannt, ist ein hochmodernes Produkt, das zur Erkennung und Analyse von Helium-Lecks in einer Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde.Es ist ein leistungsfähiges Werkzeug für Industriezweige, die eine hohe Präzision und Genauigkeit bei der Leckerkennung erfordern, wie Vakuumtechnik, Kühlung und Automobilindustrie.
Technische Parameter des Helium-Leckage-Detektors SFJ-16C:
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Produktbezeichnung
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Helium-Leckage-Detektor
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Abmessung
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475 * 714 * 1168 mm
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Kommunikationsoberfläche
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Wird nicht verwendet?
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Sprache
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Chinesisch/Englisch
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Reaktionszeit
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< 1 s
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Miniläckegehalt (Pa·m)3/s) /Schnüfflermodus
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2.5*10- 9Schnüren3/s
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Anzeige der Leckrate
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Zahlen, Balkendiagramme und Grafiken
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I/O-Eingabe-Ausgabe-Schnittstelle
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8 Eingänge, 8 Ausgänge
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Betriebstemperatur
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0~40°C
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Startzeit (min)
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<1,58min
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| Miniläckegehalt (Pa·m)3/s) /Vakuummodus |
5*10- 13 Jahre. |
| Maximale nachweisbare Leckrate ((Pa) |
1800 |
| Nachweisbare Qualität |
2, 3, 4 ((H2, He-3, He-4) |
| Mensch-Maschine-Schnittstelle |
7 Zoll Farb-LCD-Touchscreen |
| Ionenquelle |
2 Stück, mit Iridium beschichtetem Yttrium-Oxid, automatischer Schalter |
| Zurückpumpen |
Dreh-Vans-Vakuumpumpe |
| Kommunikationsoberfläche |
Wird nicht verwendet? |
| MES-Schnittstelle |
Standards |
| Diamension |
755*467*1180 mm |
| Leckerkennungsanlage |
DN25KF |
| Stromversorgung |
AC220V, 50Hz/60Hz |
| Sprache |
Chinesisch/Englisch |
Eigenschaften des Heliumleckedetektors SFJ-16C
Erkennt sehr kleine Lecks schnell und zuverlässig
Sehr schnelle Einsatzbereitschaft
Sehr kurze Reaktionszeiten
Sehr hohe Erkennungsempfindlichkeit
Innovatives Farb-Touch-Display
Reinluftkreislaufsystem
Anwendungen des Heliumleckage-Detektors SFJ-16C
Wayeal hat eine breite Palette von Anwendungen, wie z.B. Lithium-Batteriedeckelplatte, Batteriezelle, Modul, Wasserkaltplatte, Pack, 3C und Wasserstoffenergie in der neuen Energieindustrie; Verpackung, Chipherstellung,Vakuummaschine, epitaxialen Wafer, Wafer, Stecker, Filter und Photovoltaik in der Halbleiterindustrie.
Methoden zur Erkennung von Heliumlecks
Helium-Vakuummethode
Sniffer-Methode
Helium-Hud-Methode
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